%A 李汉雄, 孙明革
%T
基于LabVIEW视觉的IC插座插孔缺陷检测平台设计
%0 Journal Article
%D 2023
%J 吉林化工学院学报
%R 10.16039/j.cnki.cn22-1249.2023.05.009
%P 46-50
%V 40
%N 5
%U {https://xuebao.jlict.edu.cn/CN/abstract/article_2041.shtml}
%8 2023-05-25
%X
由于传统人工检测方法对集成电路（IC）插座插孔进行缺陷检测，容易产生误差率高和检测效率慢的问题，因此设计了基于LabVIEW视觉的IC插座插孔缺陷检测平台。该平台的工作流程为LabVIEW软件调用CCD相机采集IC插座图像，进行图像处理，并通过颗粒分析进行缺陷检测设计，同时利用LabVIEW软件进行程序设计和可视化页面设计。实验结果表明，该平台检测正确率高达96%以上，每秒平均能检测36个IC插座，能够满足实际工业生产的需求。